两种变频串联谐振试验成套装置故障分析

发布日期：2021-04-15　点击：3274次

四方国瑞电力是专业生产变频串联谐振试验成套装置的厂商，其串联谐振产品稳定性、可靠性高，自动调谐功能强大，支持多种试验模式，系统人机交互界面友好，保护功能完善。

     一、变频串联谐振试验成套装置闪络现象

       在气态或液态介质中，沿固体绝缘表面发生破坏性放电时，称为闪络，闪络现象是指当固体绝缘子周围的气体或液体介质击穿时，击穿电压沿固体绝缘子表面放电的现象，闪络现象其放电电压称为闪络电压，当绝缘体闪烁时，电极之间的电压迅速下降到零或接近零，闪络通道中的火花或电弧会导致绝缘表面局部过热和碳化，从而损坏表面绝缘。

       沿气体和固体介质界面的闪络是常见的现象，例如，沿绝缘子串表面，沿套管表面的破坏性放电称为闪络，“闪络”一词用于特殊条件下的放电现象。

     二、变频串联谐振试验成套装置放电现象

       放电现象是一个普遍的概念，它一般是指绝缘材料在电场作用下从绝缘态向导电态跳跃的现象，这种现象可能发生在电极之间以“通”的形式出现，即绝缘材料被短路完全破坏，此时电极间的电压迅速降至极低或接近零，称其为破坏性放电。跳跃现象也可能发生在电极之间的局部区域，使绝缘材料部分短接，其余绝缘材料具有良好的绝缘性能，电极间的电压仍能保持一定的值，称为局部放电。

       破坏性放电和局部放电可用于所有的电介质及其组合，然而，放电发生在不同的电介质中，它们的组合有一个特殊的名称，当在气体或液体介质中，电极之间的破坏性放电称为火花放电，如在气隙、油隙中的破坏性放电，准确地说，应该是火花放电。

  当固体介质中发生破坏性放电时，称为击穿，当击穿发生时，固体电介质中会留下痕迹，使固体电介质失去绝缘性能，如果绝缘纸板突破，就会在纸板上留下一个洞。

串联谐振的相关知识

       一、定义

       在电阻、电感及电容所组成的串联电路内，当容抗XC与感抗XL相等时，即XC＝XL，电路中的电压U与电流I的相位相同，电路呈现纯电阻性，这种现象叫串联谐振，当电路发生串联谐振时，电路的阻抗Z=√R2+XC-XL2=R,电路中总阻抗最小，电流将达到最大值。

       二、危害性

       发生谐振时，由于感抗和容抗相等，所以电感和电容两端的电压有效值相等，即：UL=UC，又由于其相位相反，因此这两个电压是相互抵消的，在电容或电感的电压有效值为：UL=UC＝XLI0=ω0LIO=ω0LU/R，式中ω0L/R称为谐振电路的品质因数，它代表电压比，即UC/U或UL/U。

       品质因数是衡量谐振电路特性的一个重要参数，如电路中电抗越大，电阻越小，则品质因数越高，因此电容或电感上的电压值将比外加电压大的多，一般电感、电容谐振电路的品质因数可达几十甚至几百，所以串联谐振又叫电压谐振，在电力系统中，串联谐振将会产生高出电网额定电压数倍的过电压，对电力设备的安全造成很大危害。

       在R-L-C串联电路中，出现线路端电压和电流同相位的现象叫串联谐振。

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